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Jack E. Williams, Richard N. Williams, Russell F. Thurow, Leah Elwell, David P. Philipp, Fred A. Harris, Jeffrey L. Kershner, Patrick J. Martinez, Dirk Miller, Gordon H. Reeves, Christopher A. Frissell & James R. Sedell     Pág. 267 - 277

 
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Santhosh T. A. Kumar, Boyd D. Blackwell, and Jeffrey H. Harris    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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