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SI traceable calibration of an instrumented indentation sensor spring constant using electrostatic force

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Koo-Hyun Chung, Stefan Scholz, Gordon A. Shaw, John A. Kramar, and Jon R. Pratt

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 9 Par: 0 Año: 2008

Sliding mode control for active vibration isolation of a long range scanning tunneling microscope

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Kuo-Jung Lan, Jia-Yush Yen, and John A. Kramar Pág. 4367 - 4373

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 11 Par: 0 Año: 2004

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