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Roy, S. Foerster, J. R. Somayazulu, V. S. Leeper, D. G.     Pág. 295 - 311
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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Nash, T. J. Chandler, G. A. Leeper, R. J. McGurn, J. Jobe, D. Torres, J. Seamen, J. Lazier, S. Gilliland, T. Nielsen, D.     Pág. 2211 - 2214
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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