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Absolute charge calibration of scintillating screens for relativistic electron detection

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A. Buck, K. Zeil, A. Popp, K. Schmid, A. Jochmann, S. D. Kraft, B. Hidding, T. Kudyakov, C. M. S. Sears, L. Veisz, S. Karsch, J. Pawelke, R. Sauerbrey, T. Cowan, F. Krausz, et al

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 3 Par: 0 Año: 2010

4.5- and 8-keV emission and absorption x-ray imaging using spherically bent quartz 203 and 211 crystals (invited)

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Koch, J. A. Aglitskiy, Y. Brown, C. Cowan, T. Freeman, R. Hatchett, S. Holland, G. Key, M. MacKinnon, A. Seely, J. Pág. 2130 - 2135

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 3 Par: 2 Año: 2003

Software Engineering Technology Watch

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Cowan, R. D. Mili, A. Ammar, H. McKendall, A. Yang, L. Chen, D. Spencer, T. Pág. 123 - 130

Revista: IEEE SOFTWARE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 19 Num: 4 Par: 0 Año: 2002

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