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T. Nandi, Nissar Ahmad, Hemant K. Singh, and R. G. Pillay     Pág. 5041 - 5043
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Ortmeyer, T H; Pillay, P     Pág. 1837 - 1847
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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