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High contrast, depth-resolved thermoreflectance imaging using a Nipkow disk confocal microscope

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J. A. Summers, T. Yang, M. T. Tuominen, and J. A. Hudgings

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 1 Par: 0 Año: 2010

Wavelength reference for optical telecommunications based on a temperature-tunable silicon etalon

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Tuominen, J. Niemi, T. Ludvigsen, H. Pág. 3620 - 3623

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 8 Par: 0 Año: 2003

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