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Design of a variable temperature scanning force microscope

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E. Nazaretski, K. S. Graham, J. D. Thompson, J. A. Wright, D. V. Pelekhov, P. C. Hammel, and R. Movshovich

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 8 Par: 0 Año: 2009

The Magnetic-Resonance Force Microscope: A New Tool for High-Resolution, 3-D, Subsurface Scanned Probe Imaging

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Hammel, P. C. Pelekhov, D. V. Wigen, P. E. Gosnell, T. R. Midzor, M. M. Roukes, M. L. Pág. 789 - 798

Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 91 Num: 5 Par: 0 Año: 2003

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