6   Artículos

 
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Chandramouli, S.; Bien, F.; Kim, H.; Scholz, C.; Gebara, E.; Laskar, J.     Pág. 2740 - 2746

 
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Kim, H.; de Ginestous, J.; Bien, F.; Lee, K.-H.; Chandramouli, S.; Hur, Y.; Scholz, C.; Gebara, E.; Laskar, J.     Pág. 2942 - 2950

 
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Hur, Y.; Moonkyun Maeng; Chun, C.; Bien, F.; Hyoungsoo Kim; Chandramouli, S.; Gebara, E.; Laskar, J.     Pág. 246 - 255

 
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Chandramouli, R; Ranganathan, N     Pág. 129 - 131
Revista: IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS    Formato: Impreso

 
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Chandramouli, R; Vijaykrishnan, N; Ranganathan, N     Pág. 463 - 471
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

 
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Chandramouli, R; Ranganathan, N     Pág. 295 - 297
Revista: IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS    Formato: Impreso

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