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Reflection scanning near-field optical microscopy in ultrahigh vacuum

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Stefan Hoppe, Georgios Ctistis, Jens J. Paggel, and Paul Fumagalli Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 6 Par: 0 Año: 2005

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