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Development of a synchrotron biaxial tensile device for in situ characterization of thin films mechanical response

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G. Geandier, D. Thiaudière, R. N. Randriamazaoro, R. Chiron, S. Djaziri, B. Lamongie, Y. Diot, E. Le Bourhis, P. O. Renault, P. Goudeau, A. Bouaffad, O. Castelnau, D. Faurie, and F. Hild

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 10 Par: 0 Año: 2010

Measurement and Analysis of Single-Hop Delay on an IP Backbone Network

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Papagiannaki, K. Moon, S. Fraleigh, C. Thiran, P. Diot, C. Pág. 908 - 921

Revista: IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 21 Num: 6 Par: 0 Año: 2003

Guest Editorial

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Crowcroft, J; Diot, C; Gunningberg, P G; Fry, M; Seneviratne, A Pág. 314 - 316

Revista: IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 16 Num: 3 Par: 0 Año: 1998

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