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Scaling and technological limitations of 1/f noise and oscillator phase noise in SiGe HBTs

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Guofu Niu; Jin Tang; Zhiming Feng; Joseph, A.J.; Harame, D.L. Pág. 506 - 514

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 53 Num: 2 Par: 0 Año: 2005

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