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Plane-grating flat-field soft x-ray spectrometer

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C. F. Hague, J. H. Underwood, A. Avila, R. Delaunay, H. Ringuenet, M. Marsi, and M. Sacchi Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 2 Par: 0 Año: 2005

Ultrahigh-vacuum soft x-ray reflectometer

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Sacchi, M. Spezzani, C. Torelli, P. Avila, A. Delaunay, R. Hague, C. F. Pág. 2791 - 2795

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 5 Par: 0 Año: 2003

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