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Development of laser assisted nanometric resolution scanning tunneling microscopy time-of-flight mass analyzer system

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Ding, Y. Micheletto, R. Hanada, H. Nagamura, T. Okazaki, S. Pág. 3227 - 3231

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 9 Par: 0 Año: 2002

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