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High resolution, low h? photoelectron spectroscopy with the use of a microwave excited rare gas lamp and ionic crystal filters

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S. Suga, A. Sekiyama, G. Funabashi, J. Yamaguchi, M. Kimura, M. Tsujibayashi, T. Uyama, H. Sugiyama, Y. Tomida, G. Kuwahara, S. Kitayama, K. Fukushima, K. Kimura, T. Yokoi, K. Murakami, et al.

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 10 Par: 0 Año: 2010

Development of a multistage laser frequency stabilization for an interferometric gravitational-wave detector

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Nagano, S. Kawamura, S. Ando, M. Takahashi, R. Arai, K. Musha, M. Telada, S. Fujimoto, M.-K. Fukushima, M. Kozai, Y. Pág. 4176 - 4183

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 9 Par: 0 Año: 2003

Millions of cantilevers for atomic force microscopy

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Kawakatsu, H. Saya, D. Kato, A. Fukushima, K. Toshiyoshi, H. Fujita, H. Pág. 1188 - 1192

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 3 Par: 1 Año: 2002

Measurement of mechanical properties of three-dimensional nanometric objects by an atomic force microscope incorporated in a scanning electron microscope

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Fukushima, K. Kawai, S. Saya, D. Kawakatsu, H. Pág. 2647 - 2650

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 7 Par: 0 Año: 2002

Applications of Artificial Neural Networks to Image Processing

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Chellappa, R; Fukushima, K; Katsaggelos, A K; Kung, S-Y; LeCun, Y; Nasrabad Pág. 1093 - 1096

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON IMAGE PROCESSING Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 7 Num: 8 Par: 0 Año: 1998

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