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CAD-Oriented Model of a Coplanar Line on a Silicon Substrate Including Eddy-Current Effects and Skin Effect

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Tran, L. N.; Pasquet, D.; Bourdel, E.; Quintanel, S. Pág. 663 - 670

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 56 Num: 3 Par: 0 Año: 2008

Determination of Wave Noise Sources Using Spectral Parametric Modeling

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Werling, T; Bourdel, E; Pasquet, D; Boudiaf, A Pág. 2461 - 2467

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 45 Num: 12 (2) Par: 0 Año: 1997

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