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A New Analytical Method for Robust Extraction of the Small-Signal Equivalent Circuit for SiGe HBTs Operating at Cryogenic Temperatures

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Olvera-Cervantes, J.-L.; Cressler, J. D.; Medina-Monroy, J.-L.; Thrivikraman, T.; Banerjee, B.; Laskar, J. Pág. 568 - 574

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 56 Num: 3 Par: 0 Año: 2008

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