3   Artículos

 
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Dominique Verreault, Volker Kurz, Caitlin Howell, and Patrick Koelsch    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Koelsch, M.; Bane, R.; Hoellerer, T.; Turk, M.     Pág. 62 - 71
Revista: IEEE COMPUTER GRAPHICS AND APPLICATIONS    Formato: Impreso

 
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Chen, T. Schulte, D. D. Koelsch, R. K. Parkhurst, A. M.     Pág. 1285 - 1292
Revista: TRANSACTIONS OF THE ASABE    Formato: Impreso

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