AVANZADA

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Surface and interface morphology of CoSi~2 films formed by multilayer solid-state reaction

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Ru, G.-P. Li, B.-Z. Jiang, G.-B. Qu, X.-P. Liu, J. Van Meirhaeghe, R. L. Cardon, F. Pág. 229 - 236

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2002

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