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Hole Filling of a 3D Model by Flipping Signs of a Signed Distance Field in Adaptive Resolution
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Sagawa, Ryusuke; Ikeuchi, Katsushi
Pág. 686 - 699
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 30 Num: 4 Par: 0 Año: 2008
Three-dimensional beam tracking for optical lever detection in atomic force microscopy
Solicitud
usuarios registrados
Nakano, Katsushi
Pág. 137 - 141
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 71 Num: 1 Par: 0 Año: 2000
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