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Near-field microwave microscope with improved sensitivity and spatial resolution

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Tselev, A. Anlage, S. M. Christen, H. M. Moreland, R. L. Talanov, V. V. Schwartz, A. R. Pág. 3167 - 3170

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 6 Par: 0 Año: 2003

Cross-beam pulsed laser deposition: General characteristic

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Tselev, A.; Gorbunov, A.; Pompe, W. Pág. 2665 - 2672

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 72 Num: 6 Par: 0 Año: 2001

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