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E. A. Ueckermann, M. Navajas, P. Auger, A. Migeon, L. R. Tiedt, D. Yanar     Pág. 1 page
Revista: South African Journal of Science and Technology    Formato: Electrónico

 
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Riviere, N. Cartellier, A. Lemaitre-Auger, P.     Pág. 4938 - 4944
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Chassande-Mottin, E; Daubechies, I; Auger, F; Flandrin, P     Pág. 293 - 294
Revista: IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS    Formato: Impreso

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