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Radiation damage resistance of AlGaN detectors for applications in the extreme-ultraviolet spectral range

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Frank Barkusky, Christian Peth, Armin Bayer, Klaus Mann, Joachim John, and Pawel E. Malinowski

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 9 Par: 0 Año: 2009

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