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TCSPC upgrade of a confocal FCS microscope

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Ale Benda, Martin Hof, Michael Wahl, Matthias Patting, Rainer Erdmann, and Peter Kapusta Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 3 Par: 0 Año: 2005

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