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High-speed atomic force microscopy in liquid
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Sulchek, T.; Hsieh, R.; Adams, J. D.; Minne, S. C.; Quate, C. F.; Adderton,
Pág. 2097 - 2099
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 71 Num: 5 Par: 0 Año: 2000
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