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Reliability Growth Management Metrics and Statistical Methods for Discrete-Use Systems. Comment.

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Nozer D. Singpurwalla Pág. 396

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 4 Par: 0 Año: 2010

Decelerated Testing: A Hierarchical Bayes Approach

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Singpurwalla, Nozer D Pág. 468 - 477

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 4 Par: 0 Año: 2005

Testing the Untestable: Reliability in the 21st Century

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Bennett, T. R. Booker, J. M. Keller-McNulty, S. Singpurwalla, N. D. Pág. 118 - 124

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 1 Par: 0 Año: 2003

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