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Precision spectrometer for measurement of specular reflectance

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Haapalinna, A. Nevas, S. Manoochehri, F. Ikonen, E. Pág. 2237 - 2241

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 6 Par: 0 Año: 2002

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