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Leakage Current Mechanisms and Leakage Reduction Techniques in Deep-Submicrometer CMOS Circuits, (Contributed Paper)

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Roy, K. Mukhopadhyay, S. Mahmoodi-Meimand, H. Pág. 305 - 305

Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 91 Num: 2 Par: 0 Año: 2003

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