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Luengo, D. Santamaria, I. Ibanez, J. Vielva, L. Pantaleon, C. Pág. 148 - 151

Revista: IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 10 Num: 5 Par: 0 Año: 2003

SHORT PAPERS - Analyzing the Stability of the FDTD Technique by Combining the von Neumann Method with the Routh-Hurwitz Criterion

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Pereda, J A; Vielva, L A; Vegas, A; Prieto, A Pág. 377 - 380

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 49 Num: 2 Par: 0 Año: 2001

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