AVANZADA

1 Artículos

Surface roughness measurement on microchannels by atomic force microscopy using a bent tapered fiber probe

Solicitud

usuarios registrados

Chen, Sy-Hann; Lin, Heh-Nan; Yang, Chii-Ron Pág. 3953 - 3954

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 71 Num: 10 Par: 0 Año: 2000

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »