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4.5- and 8-keV emission and absorption x-ray imaging using spherically bent quartz 203 and 211 crystals (invited)

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Koch, J. A. Aglitskiy, Y. Brown, C. Cowan, T. Freeman, R. Hatchett, S. Holland, G. Key, M. MacKinnon, A. Seely, J. Pág. 2130 - 2135

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 3 Par: 2 Año: 2003

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