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SYSTEM RELIABILITY -- MEASURES, PREDICTION, OPTIMIZATION, ESTIMATION - Reliability life-testing & failure-analysis of GaAs monolithic Ku-band driver amplifiers

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Mittereder, J; Roussos, J; Christianson, K; Anderson, W Pág. 119 - 125

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 2 Par: 0 Año: 1998

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