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Discrete retardance second harmonic generation ellipsometry

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Christopher J. Dehen, R. Michael Everly, Ryan M. Plocinik, Hartmut G. Hedderich, and Garth J. Simpson

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 78 Num: 1 Par: 0 Año: 2007

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