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Morio, J.; Refregier, P.; Goudail, F.; Dubois-Fernandez, P. C.; Dupuis, X.     Pág. 1097 - 1108
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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C. Barué, C. Canet, J. Cornell, M. Dubois, M. Dupuis, C. Eléon, J. L. Flambard, G. Gaubert, C. Huet-Equilbec, P. Jardin, N. Lecesne, P. Lehérissier, F. Lemagnen, R. Leroy, and J. Y. Pacquet    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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G. Gaubert, C. Barué, C. Canet, J. Cornell, M. Dubois, M. Dupuis, C. Eleon, J. L. Flambard, C. Huet-Equilbec, P. Jardin, N. Lecesne, P. Leherissier, F. Lemagnen, R. Leroy, J. Y. Pacquet et al.    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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C. Huet-Equilbec, P. Jardin, M. G. Saint Laurent, C. Barué, C. Canet, J. C. Cornell, M. Dubois, M. Dupuis, C. Eléon, J.-L. Flambard, G. Gaubert, P. Lecacheux, N. Lecesne, P. Lehérissier, F. Lemagnen et al.    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Dupuis, Debbie J.     Pág. 191 - 201
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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Gaubert, G. Baru, C. Canet, C. Cornell, J. Dupuis, M. Farabolini, W. Flambard, J. L. Gorel, P. Jardin, P. Lecesne, N.     Pág. 956 - 960
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Dupuis, D; Mills, J     Pág. 88 - 95
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

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