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Programmable Built-In Self-Testing of Embedded RAM Clusters in System-on-Chip Architectures
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Benso, A. Di Carlo, S. Di Natale, G. Prinetto, P. Bodoni, M. L.
Pág. 90 - 97
Revista:
IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE
Formato:
Impreso
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Vol: 41 Num: 9 Par: 0 Año: 2003
TESTING OF TELECOMMUNICATION HARDWARE - TESTING EMBEDDED MEMORIES IN TELECOMMUNICATION SYSTEMS - This article analyzes major problems related to testing complex telecommunication systems, with particular emphasis on their memory modules
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Barbagallo, Stefano; Benso, Alfredo; Chiusano, Silvia; Bodoni, Monica Lobetti
Pág. 84 - 89
Revista:
IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 37 Num: 6 Par: 0 Año: 1999
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