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Programmable Built-In Self-Testing of Embedded RAM Clusters in System-on-Chip Architectures

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Benso, A. Di Carlo, S. Di Natale, G. Prinetto, P. Bodoni, M. L. Pág. 90 - 97

Revista: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 41 Num: 9 Par: 0 Año: 2003

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