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High sensitivity imaging Thomson scattering for low temperature plasma

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H. J. van der Meiden, R. S. Al, C. J. Barth, A. J. H. Donné, R. Engeln, W. J. Goedheer, B. de Groot, A. W. Kleyn, W. R. Koppers, N. J. Lopes Cardozo, M. J. van de Pol, P. R. Prins, D. C. Schram, A. E. Shumack, P. H. M. Smeets et al.

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 1 Par: 0 Año: 2008

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