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A Review of Statistical Methods for Quality Improvement and Control in Nanotechnology

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JYE-CHYI LU, SHUEN-LIN JENG, and KAIBO WANG

Revista: JOURNAL OF QUALITY TECHNOLOGY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 41 Num: 2 Par: 0 Año: 2009

Wavelet-Based Data Reduction Techniques for Process Fault Detection

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Jeong, Myong K.; Lu, Jye-Chyi; Huo, Xiaoming; Vidakovic, Brani; Di Chen, Pág. 26 - 40

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 1 Par: 0 Año: 2006

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