3   Artículos

 
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Neelesh A. Patankar, Nitin Sharma     Pág. 419 - 432

 
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Ja, S.-S. Kulkarni, V. G. Mitra, A. Patankar, J. G.     Pág. 346 - 352
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

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