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Jofre, L.; Broquetas, A.; Romeu, J.; Blanch, S.; Toda, A.P.; Fabregas, X.; Cardama, A.     Pág. 451 - 464
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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Sagues, L. Lopez-Sanchez, J. M. Fortuny, J. Fabregas, X. Broquetas, A. Sieber, A. J.     Pág. 1271 - 1278

 
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Sagues L. Lopez-Sanchez J. M. Fortuny J. Fabregas X. Broquetas A. Sieber A. J.     Pág. 671 - 684

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