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Mixed-Mode Chain Scattering Parameters: Theory and Verification
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Erkens, H.; Heuermann, H.
Pág. 1704 - 1708
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 55 Num: 8 Par: 0 Año: 2007
Calibration Procedures with Series Impedances and Unknown Lines Simplify On-Wafer Measurements
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Heuermann, H
Pág. 1 - 5
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 47 Num: 1 Par: 0 Año: 1999
Line Network Network (INN): An Alternative In-Fixture Calibration Procedure
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Heuermann, H; Schiek, B
Pág. 408 - 413
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 45 Num: 3 Par: 0 Año: 1997
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