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D. J. Thoen, W. A. Bongers, E. Westerhof, J. W. Oosterbeek, M. R. de Baar, M. A. van den Berg, V. van Beveren, A. Bürger, A. P. H. Goede, M. F. Graswinckel, B. A. Hennen, and F. C. Schüller    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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J. W. Oosterbeek, A. Bürger, E. Westerhof, M. R. de Baar, M. A. van den Berg, W. A. Bongers, M. F. Graswinckel, B. A. Hennen, O. G. Kruijt, J. Thoen, R. Heidinger, S. B. Korsholm, F. Leipold, and S. K. Nielsen    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Beardsley, P.; van Baar, J.; Raskar, R.; Forlines, C     Pág. 39 - 43
Revista: IEEE COMPUTER GRAPHICS AND APPLICATIONS    Formato: Impreso

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