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Devices and Circuits - Analytical Model for Electrical and Thermal Transients of Self-Heating Semiconductor Devices

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Zhu, Y; Twynam, J K; Yagura, M; Hasegawa, M; Hasegawa, T; Eguchi, Y; Yamad Pág. 2258 - 2263

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 12 (2) Par: 0 Año: 1998

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