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Michael Wahl, Hans-Jürgen Rahn, Tino Röhlicke, Gerald Kell, Daniel Nettels, Frank Hillger, Ben Schuler, and Rainer Erdmann    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Hillger, W. Meier, R. Henrich, R.     Pág. 147 - 150
Revista: INSIGHT    Formato: Impreso

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