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Fizeau interferometer system for fast high resolution studies of spectral line shapes

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O. Novák, I. S. Falconer, R. Sanginés, M. Lattemann, R. N. Tarrant, D. R. McKenzie, and M. M. M. Bilek

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 82 Num: 2 Par: 0 Año: 2011

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