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Reliability Growth Management Metrics and Statistical Methods for Discrete-Use Systems.
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J. Brian Hall, Paul M. Ellner, Ali Mosleh
Pág. 379 - 388
Revista:
TECHNOMETRICS
Formato:
Impreso
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Vol: 52 Num: 4 Par: 0 Año: 2010
Reliability Growth Management Metrics and Statistical Methods for Discrete-Use Systems. Rejoinder.
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J. Brian Hall, Paul M. Ellner, Ali Mosleh
Pág. 401 - 408
Revista:
TECHNOMETRICS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 52 Num: 4 Par: 0 Año: 2010
Nursery Worker Turnover and Language Proficiency
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Hannah M. Mathers, Alejandra A. Acuña, Donna R. Long, Bridget K. Behe, Alan W. Hodges, John J. Haydu, Ursula K. Schuch, Susan S. Barton, Jennifer H. Dennis, Brian K. Maynard, Charles R. Hall, Robert McNeil, and Thomas Archer
Pág. 71 - 77
Revista:
HORTSCIENCE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 45 Num: 1 Par: 0 Año: 2010
CEO Incentives and Firm Size
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George P. Baker and Brian J. Hall
Pág. 767 -
Revista:
JOURNAL OF LABOR ECONOMICS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 22 Num: 4 Par: 0 Año: 2004
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