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Ultrahigh-vacuum soft x-ray reflectometer
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Sacchi, M. Spezzani, C. Torelli, P. Avila, A. Delaunay, R. Hague, C. F.
Pág. 2791 - 2795
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 74 Num: 5 Par: 0 Año: 2003
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