2 Artículos

Direct Extraction of FET Noise Models From Noise Figure Measurements

Solicitud

usuarios registrados

Rudolph, M; Doerner, R; Heymann, P; Klapproth, L; Böck, G Pág. 461 - 464

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 2 Par: 0 Año: 2002

Experimental Evaluation of Microwave Field-Effect-Transistor Noise Models

Solicitud

usuarios registrados

Heymann, P; Rudolph, M; Prinzler, H; Doerner, R; Klapproth, L; Bock, G Pág. 156 - 163

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 2 Par: 0 Año: 1999

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »