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Characterization and Modeling of Bias Dependent Breakdown and Self-Heating in GaInP/GaAs Power HBT to Improve High Power Amplifier Design

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Heckmann, S. Sommet, R. Nebus, J.-M. Jacquet, J.-C. Floriot, D. Auxemery, P. Quere, R. Pág. 2811 - 2819

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 12 Par: 0 Año: 2002

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