AVANZADA

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FDTD Characterization of Waveguide-Probe Structures

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Tentzeris, E; Krumpholz, M; Dib, N; Yook, J-G; Katehi, L P B Pág. 1452 - 1460

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 10 (1) Par: 0 Año: 1998

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