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Taketo Eguchi and Masahiro Tasumi    
This study investigated two popular satellite-derived vegetation indices (VIs), MODIS NDVI and EVI, as tools for monitoring crop growth at the Thapanzeik Dam irrigation district in Myanmar, where quality ground data are difficult to obtain. The time-seri... ver más
Revista: Agriculture    Formato: Electrónico

 
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Branco Eguchi,Jacqueline Albino    
A partir de dados de reanálise de ondas entre os anos de 1948 e 2008 do modelo GOW para o litoral sul do estado de Espírito Santo e da superposição dessas informações com os índices ENSO e SAM, obtidos através da Administração nacional oceânica e atmosfé... ver más
Revista: Revista Brasileira de Climatologia    Formato: Electrónico

 
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Takeshi Murayama, Yuichi Mine, Hiroshi Fujinaka, Toru Eguchi     Pág. 354 - 368
Various types of computer systems including CAD/CAM systems have been introduced in machine industry. Some of the systems can handle assembly sequence planning, however it requires long time for planning. This paper proposes a method of generating assemb... ver más
Revista: Emitter: International Journal of Engineering Technology    Formato: Electrónico

 
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Kajornsak Faungnawakij, Ryuji Kikuchi, Koichi Eguchi     Pág. 655 - 658
Revista: SCRIPTA MATERIALIA    Formato: Impreso

 
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Masayuki Hamada, T. Eguchi, K. Akiyama, and Y. Hasegawa    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Eguchi, S.; Hasegawa, S.     Pág. 320 - 330
Revista: SOIL SCIENCE SOCIETY OF AMERICA JOURNAL    Formato: Impreso

 
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Toshu An, Takahiro Nishio, Toyoaki Eguchi, Masanori Ono, Atsushi Nomura, Kotone Akiyama, and Yukio Hasegawa    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Shogo Matsumoto, Takahiro Eguchi, Tsutomu Maejima, Hiromitsu Komatsu     Pág. 151 - 159
Revista: SCIENTIA HORTICULTURAE    Formato: Impreso

 
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S. Torbrügge, J. Lübbe, L. Tröger, M. Cranney, T. Eguchi, Y. Hasegawa, and M. Reichling    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Tuanjie Tong, Go Eguchi, Jaehoon Cheon, John Callahan and Laurence Leff     Pág. 397 - 411
Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS    Formato: Impreso

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